close


深耕於開發記憶體測試與修復技術的厚翼科技(HOY)日前發布最新「記憶體測試電路開發環境-BARINS 3.0」,開放使用者自定義Cell Library(元件庫)裡Cell的行為,讓BRAINS學習如果遇到使用者定義的Cell行為,決定記憶體時鐘由哪一個時鐘路徑提供,可以大幅降低使用者比對記憶體落在時鐘域(Clock Domain)的比對時間,並且提供最佳化的記憶體測試電路、大幅縮短測試時間,降低測試費用。

團購美食新北

簡單年菜食譜做法湖口火鍋料宅配深度學習是在人工智慧領域中的一個新興話題,也是成長快速的領域,而AI將引發記憶體測試需求,現已有許多晶片供應商對深度學習的興趣不斷增加,意味著系統單晶片(SoC)對於記憶體的需求量將會大增,進而帶動記憶體測試需求。因此,HOY最新「記憶體測試電路開發環境-BARINS 3.0」內建數個已知Gate Cell的行為,在Auto Identification後段,進入Auto Clock Tracing之前,BRAINS會開始建立所有Memory的Hierarchy並找出共同的Top Hierarchy。對照其他記憶體測試開發工具而言找出共同的Top Hierarchy在複雜的電路中會花費很長的執行2018除夕圍爐餐廳時間,以BRAINS3.0而言,若是電路設計沒有大幅更改,之後就能直接使用第一次搜尋的結果,更可節省三倍的執行時間。此外,HOY對各式記憶體提供測試與修復解決方案,提供最佳化的記憶體測試電路,從產品設計源頭大幅提升測試良率,提高產業競爭力,先進的功能與友善的介面能大幅縮減測試成本與產品上市的時間,更能滿足製造商的成本和產品可靠性的需求。

HOY至九月底前提供最先諮詢的前八位使用者免費BRAINS的體驗機會及完整的使用說明文件。聯繫方式:歸寧禮盒sales@hoy-tech.com。(工商時報)




BB715669F9719147
arrow
arrow

    deborak7gfd8p 發表在 痞客邦 留言(0) 人氣()